常溫固態(tài)硬盤(pán)BIT老化箱能做的測試項目

常溫固態(tài)硬盤(pán)BIT老化箱可以用于M2、SATA接口固態(tài)硬盤(pán)的BIT老化測試，常溫BIT測試有多個(gè)測試項目，下面為大家做簡(jiǎn)單介紹。

常溫固態(tài)硬盤(pán)BIT老化箱的測試項目：

測試設備：環(huán)儀儀器 常溫固態(tài)硬盤(pán)BIT老化箱

測試依據：YD T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤(pán)測試規范

測試項目：

1.吞吐量：主要測硬盤(pán)的吞吐量和延遲，測試時(shí)間10min。

2.IOPS：測量硬盤(pán)的IOPS和時(shí)延，將讀寫(xiě)比例分別設置為隨機: 100%read、90%read10%write、70%read30%write 、 50%read50%write、30%read702write、10%read90% write、100%write。

3.寫(xiě)飽和測試（FIO）：測量被測設備對持續隨機4KiB寫(xiě)的IOPS曲線(xiàn)，測試時(shí)間24h。

4.Trim前后比較測試：比較被測SSD在TRIM命令激活后的恢復能力（可選)，測試記錄吞吐量、IOPS及對應時(shí)延的時(shí)間曲線(xiàn)。

5.交叉刺激恢復測試：主要測量SUT在不同相鄰負載下的相互作用。

6.硬盤(pán)壓力測試：測試硬盤(pán)在壓力運行下的運行情況。

7.復位壓力測試：測試硬盤(pán)復位能力，采用高腳自動(dòng)化測試，重復1~3100次。