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    室溫SSD老化試驗柜使用步驟

    時間:2023-11-16 13:48:33 作者:環儀小編 點擊:

    隨著SSD(固態硬盤)在各種應用中的廣泛使用,其性能和耐久性測試變得尤為重要。小編將根據用戶的測試要求,在室溫下進行固態硬盤BIT測試的實施方法,以確保SSD在實際工作中的可靠性和穩定性。


    室溫SSD老化試驗柜使用步驟:

    測試設備:環儀儀器 室溫SSD老化試驗柜

    測試樣品:SSD(M2接口/SATA接口均可)

    室溫SSD老化試驗柜使用步驟(圖1)

    測試步驟:

    步驟一:建立通信

    樣品在SSD老化試驗柜安裝好后,使用MI協議(NVM Express Management Interface協議)建立服務器的BMC與SSD之間的通信鏈路。

    設置通信頻率,以確保服務器的BMC能夠按照設定的頻率從SSD獲取NAND溫度值。


    步驟二:獲取溫度值

    通過已建立的通信鏈路,BMC從SSD獲取NAND溫度值。

    計算BMC獲取的NAND溫度值與BIT測試的需求溫度值之間的溫度偏差值。


    步驟三:設定溫度控制器

    設定溫度偏差閾值,該閾值用于判斷NAND溫度是否在可接受范圍內。

    根據計算得到的溫度偏差值與設定的閾值大小關系,選擇相應的溫度控制器。


    步驟四:控制風扇轉速

    選擇支持Fuzzy-PID控制方法的溫度控制器。

    根據選擇的控制器,調節BMC對風扇轉速進行智能控制,以使SSD的NAND溫度值逐漸接近需求溫度值。


    在測試過程中,SSD老化試驗柜可控制整個測試過程的溫度,確保溫度穩定,一旦溫度超出閾值,就會啟動溫度控制器來調整溫度。

    從上面的測試可以看出,室溫SSD老化試驗柜為測試提供了測試環境以及所需測試溫度。


    標簽: SSD老化柜

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