可程序硬盤高低溫度BIT老化箱的測試應用

固態硬盤（SSD）在生產過程中，需要進行一系列的試驗，可程序硬盤高低溫度BIT老化箱在SSD的應用中，是屬于溫濕度環境測試的一個重要試驗項目，下面是該試驗的過程。

測試硬件：環儀儀器 可程序硬盤高低溫度BIT老化箱

測試環境：高溫80℃／低溫-40℃

測試樣品：固態硬盤

測試依據：YD/T 3824-2021 面向互聯網應用的固態硬盤測試規范

測試流程：

1.BIT老化箱設置為128KB順序寫，隊列深度32，運行BIT老化箱。

2.以不大于20℃/h的溫降速度從常溫到-40度。

3.被測硬盤-40℃環境中，靜置72小時。

4.以不大于20℃/h 的溫升速度從-40℃到 80℃。

5.被測硬盤80℃環境中，靜置72小時。

6.以不大于20℃/h的溫升速度，使環境溫度從80℃降到25℃，靜置24小時。

7.BIT老化箱設置為128KB順序寫，隊列深度32，運行BIT老化箱。

8.比較步驟1、7的測試結果。

高低溫測試中，篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問題、顆粒問題、DRAM以及主控問題，通過BIT測試，能保證盤片在使用過程中穩定可靠。