可程序硬盤(pán)高低溫度BIT老化箱的測試應用

固態(tài)硬盤(pán)（SSD）在生產(chǎn)過(guò)程中，需要進(jìn)行一系列的試驗，可程序硬盤(pán)高低溫度BIT老化箱在SSD的應用中，是屬于溫濕度環(huán)境測試的一個(gè)重要試驗項目，下面是該試驗的過(guò)程。

測試硬件：環(huán)儀儀器 可程序硬盤(pán)高低溫度BIT老化箱

測試環(huán)境：高溫80℃／低溫-40℃

測試樣品：固態(tài)硬盤(pán)

測試依據：YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤(pán)測試規范

測試流程：

1.BIT老化箱設置為128KB順序寫(xiě)，隊列深度32，運行BIT老化箱。

2.以不大于20℃/h的溫降速度從常溫到-40度。

3.被測硬盤(pán)-40℃環(huán)境中，靜置72小時(shí)。

4.以不大于20℃/h 的溫升速度從-40℃到 80℃。

5.被測硬盤(pán)80℃環(huán)境中，靜置72小時(shí)。

6.以不大于20℃/h的溫升速度，使環(huán)境溫度從80℃降到25℃，靜置24小時(shí)。

7.BIT老化箱設置為128KB順序寫(xiě)，隊列深度32，運行BIT老化箱。

8.比較步驟1、7的測試結果。

高低溫測試中，篩選不合格的盤(pán)片，其中包括了焊接問(wèn)題、顆粒問(wèn)題、DRAM以及主控問(wèn)題，通過(guò)BIT測試，能保證盤(pán)片在使用過(guò)程中穩定可靠。