常溫BIT測試老化柜

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
常溫BIT測試老化柜是用于固態(tài)硬盤(pán)（SSD）常溫讀寫(xiě)測試（BurnInTest，BIT）的試驗設備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤(pán)運行所需要的穩定溫度，為BIT測試提供保障。

二、滿(mǎn)足標準：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤(pán)測試規范
JEDEC 218

三、技術(shù)參數：

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、根據不同的要求提供測試電腦配置。
2、機柜采用1.0冷軋鋼板，外部烤漆處理，堅實(shí)耐用，美觀(guān)大方。
3、每層電腦采用抽屜式擺放，方便電腦散熱和后期維護。
4、機柜頂部配有220V散熱風(fēng)扇，背板為高密度六角單開(kāi)網(wǎng)孔門(mén)，通風(fēng)率≥75%，門(mén)和側板為可拆卸式結構，保證測試電腦運行環(huán)境良好。
5、機柜底部有萬(wàn)向輪和固定腳杯，方便移動(dòng)設備。

五、測試要求：
SSD測試在實(shí)驗室常溫40℃的環(huán)境下進(jìn)行的BIT測試，根據JEDEC 218的要求，整個(gè)測試過(guò)程所需要的測試時(shí)長(cháng)為1000h，在剛啟動(dòng)開(kāi)始測試時(shí)，BMC通過(guò)MI協(xié)議獲取的SSD的NAND溫度值為40℃左右，當測試時(shí)長(cháng)達到1000小時(shí)，NVME SSD就完成了在常溫環(huán)境下進(jìn)行BIT的測試。