高精度SSD RDT高溫測試柜

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

高精度SSD RDT高溫測試柜為一款定制化設備，測試柜廣泛應用于PCB電路板、電源電子、電腦產(chǎn)品、通訊、生物制藥、儀器儀表，航天材料、汽車(chē)部件、橡塑輪胎、太陽(yáng)能逆變器等領(lǐng)域產(chǎn)品的模擬在高溫環(huán)境下的老化篩選試驗。

二、技術(shù)參數：

三、基本配置：

測試柜配有平衡調溫控制系統（BTC），以 PID 方式控制 SSR；

溫度控制，畫(huà)面顯示，計時(shí)功能，超溫保護，接地保護，風(fēng)機過(guò)載保護；

雙開(kāi)門(mén)，大面積鋼化玻璃觀(guān)察窗，可觀(guān)察工作室狀況，內置保溫層；

一拖十SATA接口獨立開(kāi)關(guān)控制板卡；

履帶式抽拉抽屜，12V 控制電源，耐高溫線(xiàn)；

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：

抽拉式柜子容量大，插拔方便，產(chǎn)品水平插拔可以減少接口因產(chǎn)品重力造成的不良影響，提高板卡使用壽命；

采用12V轉5V電流供電方式，充分保證每個(gè)板卡供電的穩定性，不懼大批量大容量產(chǎn)品測試；

產(chǎn)品區與供電電源隔離；

多個(gè)高精度溫度采集裝置，每層有獨立出風(fēng)口及進(jìn)風(fēng)口保證溫度更均勻；

產(chǎn)品可根據要求設置上電測試溫度。

五、實(shí)際應用

SSD在生產(chǎn)過(guò)程中需進(jìn)行一次開(kāi)卡測試、RDT壞塊測試、BIT機內自測試和二次開(kāi)卡測試等多項測試，以驗證其功能的完整性。這些測試都需要使用SSD RDT高溫測試柜來(lái)完成測試，因此，SSD RDT高溫測試柜在SSD生產(chǎn)過(guò)程中起到重要作用。