抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測試箱的使用方法

隨著(zhù)科技的快速發(fā)展，固態(tài)硬盤(pán)（SSD）在各個(gè)領(lǐng)域的應用越來(lái)越廣泛。為了確保SSD在高溫、惡劣環(huán)境下的性能表現，抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測試箱應運而生。而抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測試箱作為一種專(zhuān)業(yè)的測試設備，其使用方法顯得尤為關(guān)鍵。下面，教大家如何使用該設備。

環(huán)儀儀器 抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測試箱使用方法：

步驟一：準備工作

將硬盤(pán)分別放置在放置架的放置板表面。接入穩定電壓。

啟動(dòng)驅動(dòng)電機，帶動(dòng)收線(xiàn)輪轉動(dòng)，拉松拉繩，重力作用下，密封保溫罩沿升降架表面的滑動(dòng)槽向下拉動(dòng)，密封保溫罩抵接在擠壓棉的表面，形成密封空間。

啟動(dòng)老化柜本體內的加熱組件，進(jìn)行加熱。

步驟二：測試過(guò)程

通過(guò)傳動(dòng)箱帶動(dòng)傳動(dòng)齒輪轉動(dòng)，使放置架轉動(dòng)180度，將放置了硬盤(pán)一側的放置板轉動(dòng)到老化柜本體內部。啟動(dòng)驅動(dòng)氣缸，帶動(dòng)密封板伸出，抵接在老化柜本體和密封保溫罩之間的縫隙內，進(jìn)行密封。

啟動(dòng)驅動(dòng)機構將密封保溫罩升起，在未放置的放置板上放置好硬盤(pán)。硬盤(pán)測試完畢后，關(guān)閉密封保溫罩，收回密封板。

啟動(dòng)傳動(dòng)箱將放置架翻轉，將測試完畢的硬盤(pán)轉到表面。

打開(kāi)密封保溫罩，將其取下，放置未測試的硬盤(pán)。

步驟三：循環(huán)測試

重復上述步驟，循環(huán)進(jìn)行測試。

持續監控測試過(guò)程中的溫度和其他參數，確保老化柜的正常運行。

根據測試需求，適時(shí)調整老化時(shí)間和溫度等參數。

抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測試箱是一款定制設備，根據不同用戶(hù)的測試要求不同，在使用過(guò)程也會(huì )有所差異。