高精度硬盤RDT高溫老化柜的使用方法

市場上的SSD盤片在出廠前，一般都會進行可靠性驗證測試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要測試盤片是否能正常工作，硬件是否存在虛焊，DRAM(動態隨機存取內存)是否異常，篩選出NAND閃存(NAND FLASH)中的壞塊等操作；即RDT主要目的是篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問題、顆粒問題、DRAM以及主控問題，通過RDT測試，能保證盤片在使用過程中穩定可靠。

SSD的RDT測試，需要用到高精度硬盤RDT高溫老化柜，那么，高精度硬盤RDT高溫老化柜怎么操作呢？下面為大家介紹一下。

環儀儀器 高精度硬盤RDT高溫老化柜使用步驟：

1.掃描Burn-in board SN，然后SSD開始加載并掃描SSD SN；

2.將Burn-in board SN與SSD SN進行關聯，生成SSD SN Map；

3.將SSD SN Map通過服務器保存在MES系統中；

4.將SSD SN信息通過Burn-in board SN開始逐一加載到RDT高溫老化柜的終端計算機上；

5.當RDT高溫老化柜上的SSD測試完畢后，回傳Map日志和測試log到服務器；

RDT高溫老化柜上的SSD測試內容包括：

第一項，檢測貼片后的SSD電路板上的各個部分硬件的功能是否正常；

第二項，通過BIST檢測在高溫環境下，對DRAM和NAND的可靠性測試，測試過程中對DRAM和NAND每一個存儲單元進行讀寫測試，通過測試把NAND的早期壞塊找出來；

第三項，檢查BIST的測試結果，并執行SSD的初始化。

6.服務器對測試log結果進行解析，并上傳反饋到MES系統；

7.卸載SSD前，再次掃描Burn-in board SN，然后SSD開始加載并掃描SSD SN；

8.通過SN檢測SSD產品通過或不通過；若是不通過，顯示出不通過對應的錯誤代碼；

9.通過分揀程序將通過的SSD產品分發到通過托盤中，未通過的SSD產品分發到未通過托盤中。