高溫低溫高度試驗箱在電子器件中的應用

我們都知道，海拔越高，氣壓越低。而一些在高海拔和飛行器上工作的器件，在低氣壓環境下，比在平地環境下更容易失效。氣壓變低，一方面會使器件周圍空氣的散熱能力降低，另一方面介質的介電強度也會下降，會引起放電而損壞器件。

而電子器件的低氣壓試驗，就是將試驗樣品放入高溫低溫高度試驗箱(室)，然后將箱(室)內氣壓降低到有關標準規定的值，并保持規定持續時間的試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在貯存、運輸和使用中對低氣壓環境的適應性。

對于低氣壓試驗，通常有低溫低氣壓和高溫低氣壓兩種方式，在海拔3000m(70kPa)的地帶，主要出現的是低溫環境，故采用低溫低氣壓試驗考察設備對低氣壓環境的適應能力。

電子器件低氣壓試驗的要求：

試驗設備：高溫低溫高度試驗箱（高低溫低氣壓試驗箱）

設備型號：環儀儀器 HYLA系列

測試標準：

GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM ：高溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》

GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》

GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》

GB T 2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M 低氣壓試驗方法

GJB 150.2-1986軍用設備環境試驗方法低氣壓（高度）試驗

使用高溫低溫高度試驗箱對電子器件的測試，具有重要意義，在試驗的過程中，可以檢測產品的散熱性能、揮發性物質的影響、電氣性能等。

如需對高溫低溫高度試驗箱做更多了解，可以咨詢“環儀儀器”相關技術人員。