LED組件快速溫度循環(huán)試驗箱是適用于LED模組、模塊、燈珠、燈絲、燈帶等產(chǎn)品，用于進(jìn)行溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗和應力篩選試驗。該設備符合MIL-STD、IEC、JIS等國際測試規范，滿(mǎn)足led產(chǎn)品溫度循環(huán)測試及溫度沖擊的國際標準，如JEDEC、IPC、MIL、ISO、AEC等。
技術(shù)參數：
溫度循環(huán)試驗的特點(diǎn)：
1. 可以根據不同的測試規范要求，選擇空氣溫度控制或待測品表面溫度控制。
2. 可以選擇合適的升降溫溫變率，如等均溫或平均溫。
3. 可以分別設定升溫和降溫的溫變率偏差。
4. 可以設定升降溫的過(guò)溫偏差，以符合規范要求。
5. 溫度循環(huán)和溫度沖擊測試都可以選擇表面溫度控制。
試驗概述：
多通道LED老化電源與環(huán)境試驗箱通過(guò)專(zhuān)用老化排線(xiàn)連接。老化排線(xiàn)一端采用36P連接器，插入程控電源的輸出接口，另一端為金手指結構，經(jīng)由試驗箱進(jìn)線(xiàn)孔引入箱體內部，并固定安裝于高溫老化治具上。
在進(jìn)行老化測試時(shí)，僅需將老化板插接至試驗箱內的金手指接口，并設置相應的試驗參數，即可啟動(dòng)老化試驗過(guò)程。
所需測試條件均可在電腦上完成，可實(shí)時(shí)記錄存儲測試數據，提示有超范圍的測試工位。
如有LED組件快速溫度循環(huán)試驗箱的選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
