整體式升溫測試室是針對高性能電子產(chǎn)品模擬高溫惡劣環(huán)境的試驗設備，是提高產(chǎn)品穩定性、可靠性的重要實(shí)驗設備，測試室溫度范圍+40℃~+100℃，適合所有電子產(chǎn)品的老化測試。對于測試室的選型，大家可以參考下面為大家介紹的內容。
整體式升溫測試室選型參數：
整體式升溫測試室選型要求：
1.加熱試驗
將溫度傳感器置于高溫老化試驗箱工作空間內任意一點(diǎn)，全功率加熱，記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時(shí)間，結果不應超過(guò)120分鐘。
2.表面溫度測試
高溫老化試驗箱工作溫度首次達到最高工作溫度并穩定2小時(shí)后，用溫度計測試箱體表面溫度，對最高工作溫度不超過(guò)200℃的試驗箱，表面溫度不應大于室溫加35℃；最高工作溫度超過(guò)200℃，表面溫度應按公式確定。
3.絕緣電阻測試
試驗按GB998中6.2規定的方法進(jìn)行，其結果應與電加熱器接線(xiàn)端子（含引出線(xiàn)）對控制系統開(kāi)路時(shí)進(jìn)行1500V、交流50H、1min的絕緣強度試驗相一致，絕緣不應被擊穿。
4. 介電強度測試
試驗按GB998中6.3條的規定進(jìn)行，當試驗結果符合電加熱器接線(xiàn)端子（含引出線(xiàn)）與控制系統斷路要求時(shí)，外殼應能承受1500V、交流50H，歷時(shí)1min的介電強度試驗，絕緣不應被擊穿。
5.噪音測試
按照Z(yǔ)BN61012規定的方法進(jìn)行測試，結果整機噪聲不高，為75dB(A)。
