高低溫SSD老化柜的測試應用

SSD在生產(chǎn)過(guò)程中，需要在高溫、低溫條件下進(jìn)行可靠性測試，測試狀態(tài)既包括斷電狀態(tài)，也包括通電下最高讀取速率的工作狀態(tài)，測試過(guò)程需要用到高低溫SSD老化柜。

SSD高低溫老化過(guò)程：

試驗設備：環(huán)儀儀器 高低溫SSD老化柜

試驗依據：YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤(pán)測試規范

注意事項：由于從低溫到高溫轉換過(guò)程中，會(huì )有大量結霜變成水珠，水珠會(huì )導致芯片管腳直接的短路，導致SSD被燒毀，因此，被測試固態(tài)硬盤(pán)必須要做加固及防水處理。

前言：在YD/T 3824-2021標準的要求，固態(tài)硬盤(pán)的高低溫試驗范圍在-40~80℃，工業(yè)級溫度標準為-40℃~ +85℃。

以下試驗溫度要求則為-50~90℃，試驗要求比標準要求高。不同廠(chǎng)商的測試要求可以根據自身產(chǎn)品定位來(lái)變化。

測試流程：

1、在斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；

請勿在通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會(huì )產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測試。

2、開(kāi)機，對SSD進(jìn)行讀寫(xiě)性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。

3、進(jìn)行老化測試，觀(guān)察是否有數據對比錯誤。

4、進(jìn)行掉電測試，具體方法參考：

5、升溫到+90℃，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執行2、3、4測試步驟。

6、高溫和低溫測試分別重復10次。

如果測試過(guò)程出現任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。

市場(chǎng)上，通常有人使用商業(yè)級溫度產(chǎn)品進(jìn)行篩選后做工業(yè)級使用，這種方法具備一定的潛在風(fēng)險，篩選的產(chǎn)品在幾次溫度循環(huán)中出現故障概率極大，另外，嚴格的寬溫通常無(wú)法通過(guò)，還有可能本次測試通過(guò)，下次測試無(wú)法通過(guò)。