PCIE SSD BIT測試柜

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行循環(huán)寫(xiě)入測試，再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因為在長(cháng)時(shí)間讀寫(xiě)和高溫環(huán)境下，會(huì )加速芯片老化，可能導致故障提前出現。

二、技術(shù)參數：

三、產(chǎn)品特點(diǎn)：

單口最大速度4000MB/S，滿(mǎn)載同時(shí)工作時(shí)最高速度1500MB/S。
共12臺電腦，每臺電腦同時(shí)測試8個(gè)PCIE NVME SSD。
可配合自動(dòng)測試軟件一鍵操作。
每個(gè)端口帶保護座，座子壞了直接換保護板。
每個(gè)端子配12V轉3.3V5A供電，提供充足的工作電流，并帶短路過(guò)流過(guò)熱保護。
插入下壓式母座，不會(huì )用久后接觸不良。
硅膠定位柱，輕松上下盤(pán)，用久后不會(huì )手痛，且上面盤(pán)效率更高。
有32、40、60、80各種長(cháng)度的定位孔，適合測試各種長(cháng)度的SSD。

四、BIT電氣規格：
單口輸出電壓：DC 3.3±0.15V
單口輸出最大電流：5A
電源輸出接口：96PCS
單口最大速度：32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S
滿(mǎn)載同時(shí)工作最大速度：16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S