恒溫恒濕試驗箱需要做校準，目的是為了更好地發(fā)揮可程式恒溫恒濕試驗箱的效果和穩定性，最重要的是在出廠(chǎng)前進(jìn)行一周左右的調整校準工作，進(jìn)行調整校準，盡量模擬可靠的試驗環(huán)境，對樣品進(jìn)行正確的分析和評價(jià)。
目前，恒溫恒濕試驗箱的校準主要用到以下三種方法：
1.有負荷條件的校準:
該方法的優(yōu)點(diǎn)是測試樣品對試驗箱性能的影響，容易得到測試樣品的重要部件和部位環(huán)境試驗的詳細信息。其主要缺點(diǎn)是更換測試樣品時(shí)需要重新校準。
2.在無(wú)負荷條件下校準。
該方法的優(yōu)點(diǎn)是，可程式恒溫恒濕試驗箱的整個(gè)工作區域得到校準，可以有效評價(jià)試驗箱的適用性，其主要缺點(diǎn)是不能評價(jià)試驗樣品對試驗箱的影響?？筛鶕Y合使用者需要選擇現實(shí)中經(jīng)常用的溫濕度點(diǎn)，計量的位置設置：如果設備體積小于2立方米。則濕度點(diǎn)三個(gè)、溫度點(diǎn)九個(gè)，反之如果體積大于2立方米，濕度點(diǎn)四個(gè)，溫度點(diǎn)十五個(gè)。
3、使用中的實(shí)測:該方法不僅具有上述方法的優(yōu)點(diǎn)。而且可以獲得測試樣本在環(huán)境過(guò)程中的全面環(huán)境參數，往往在對環(huán)境要求較高的產(chǎn)品測試時(shí)采用。其主要缺點(diǎn)是，每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備，通常在試驗箱校準時(shí)采用無(wú)負荷條件下的校準方法。
恒溫恒濕試驗箱校準標準有以下三類(lèi)：
（1）電子工業(yè)部第五研究所編寫(xiě)的GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法總則》、GB/TS170.2-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》、GB/T5170-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法濕熱試驗設備等》。
（2）河北省計量科學(xué)研究院編寫(xiě)的JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗設備溫度、濕度校準規范》。
（3）機械電子工業(yè)部編寫(xiě)的GBI1158-1989《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10589-1989《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10592-1899《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB10586-1989《濕熱試驗箱技術(shù)條件》、GB10587-1989《鹽霧試驗箱技術(shù)條件》等。
