《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》標準

《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標準的第2部分，主要規定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的試驗方法和評定標準。

該標準適用于電工電子產(chǎn)品的低氣壓環(huán)境試驗，旨在通過(guò)模擬產(chǎn)品在高海拔地區或高空航行等低氣壓環(huán)境下的使用情況，評估產(chǎn)品的適應性和可靠性，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

一、范圍：
本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。
本試驗的目的是用于確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存，運輸或使用的適應性。注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的應力或失效機理的影響是十分重要的，應按下列標準進(jìn)行試驗:
1.GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法︰試驗Z/AM;低溫/低氣壓綜合試驗
2.GB/T 2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法，試驗Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗

二、試驗設備：
高低溫低氣壓試驗箱

三、部分試驗條件：
1. 試驗箱(室)內的溫度應在規定的試驗標準大氣條件溫度范圍內。
當不要求樣品在運行狀態(tài)下進(jìn)行試驗時(shí)，樣品應在不包裝、不通電、“準備使用"狀態(tài)，按其正常位置(除非另有規定)放入試驗箱(室)內。

2. 將試驗箱(室)內的氣壓降低到符合規定嚴酷等級的值，如有需要，相關(guān)規范可規定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。

3. 當要求樣品在運行狀態(tài)下進(jìn)行試驗時(shí)，樣品應通電或加電氣負載，應檢查確定試驗樣品是否能滿(mǎn)足相關(guān)規范規定的功能。試驗樣品可按規定的持續時(shí)間保持在運行狀態(tài)，或是按相關(guān)規范的要求斷開(kāi)電源。

根據產(chǎn)品的設計要求和使用要求，對試驗結果進(jìn)行評定，判斷產(chǎn)品是否符合要求。評定結果應做好記錄，并及時(shí)反饋給產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和使用部門(mén)。

該標準的實(shí)施有助于提高電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的可靠性和適應性，促進(jìn)電工電子產(chǎn)品行業(yè)的發(fā)展和進(jìn)步。